隨著芯片尺寸的不斷微縮,DRAM 工藝的微縮變得越來越困難,平面 DRAM 的“摩爾定律”正在逐漸走向極限,當今各大廠商都在研究 3D DRAM 作為解決方案來延續 DRAM 的使用。華為也將在 VLSI Symposium 2022(6 月 12 日~17 日在夏威夷舉行)上發表其與中科院微電子研究所合作開發的 3D DRAM 技術,進行各種有關內存的演示。
據EDN電子技術設計了解,華為與中科院方面開發了基于銦鎵鋅氧 IGZO-FET(由 In、Ga、Zn、O 組成的透明氧化物)材料的 CAA(Channel-All-Around)構型晶體管 3D DRAM 技術。
該器件是一種銦鎵氧化鋅(IGZO)場效應晶體管(FET),其IGZO、高k電介質氧化鉿和IZO層圍繞一個垂直柱排列。IGZO厚度約為3nm。HfOx和IZO的厚度約為8nm。垂直方向的通道長度為55nm,平面內的臨界尺寸為50nm。
該晶體管在Vth+1V時達到32.8microamps/micron的電流密度,亞閾值擺幅為92mV/decade。
在-40攝氏度到+120攝氏度之間,該晶體管具有良好的熱穩定性和可靠性,有望成為未來超越1-alpha節點的高性能3D-DRAM的候選產品。
IGZO 是一種不算陌生的氧化物,早在 2004 年就由東京工業大學的細野教授發現并發表在《自然》雜志上。
▲ CAA 型 IGZO FET 垂直截面 SEM 圖像和 EDX 可視化元素分布(圖源:VLSI symposium)
除華為之外,日媒還表示 IBM、三星、英特爾、Meta、斯坦福大學、喬治亞理工學院等都將提出存儲領域的新突破。