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事半功倍 - 更準確快速的IV-CV測量方法

研討會介紹

半導體組件和電子器件都需要IV與CV測量,以提取制造過程的關鍵信息或驗證器件性能。傳統上,IV 測量使用SMU,CV測量使用LCR表、電容測量單元(CMU)或阻抗分析儀。測試系統必須用一個整合開關對待測物(DUT) 的CV和IV兩種測量結合起來,然而這將使測量精度降低并增加測試時間。

在本次線上研討會中,您將有機會了解NI最先進的LCR儀器,可以將IV和CV測試集成在一起,同時執行f-F/f-A類測量, 并了解如何將它應用在優化實驗室空間,同時提高MEMS、超聲波傳感器、晶圓參數和iPD CV/IV測量精度。隨著設備復雜性的持續快速上升和上市時程的縮短,參加本次研討會探索通過嶄新的儀表架構,優化半導體參數測試,并節省成本。

演講嘉賓
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周文昊
NI亞太區半導體業務發展經理_Mixed Signal
周文昊先生目前擔任NI公司亞太區混合信號半導體業務發展經理。對于功率電子、混合信號電路以及高速串行數字設計和測試等領域具有豐富經驗,在電子測試與測量產品研發、銷售和市場推廣方面具有超過二十年的從業經歷。?周文昊先生畢業于哈爾濱工業大學,擁有工學碩士學位。
幸運禮物
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公司介紹

NI公司于1976年5月在美國德克薩斯州成立,總部設于美國得克薩斯州的奧斯汀市,為納斯達克上市公司(NASDAQ: NATI),在全球有50多個國家設有辦事處,為全球超過35,000家公司提供服務,NI在全球擁有約7000名員工。

40多年來,NI開發了眾多自動化測試和自動化測量系統,助力工程師解決全球最嚴峻的難題。

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